Uniwell Circuits 32-слойная полупроводниковая испытательная плата

Uniwell Circuits 32-слойная полупроводниковая испытательная плата

Модель продукта: 16I348024A0Слои: 32 слояМатериал: материал с высоким ТГТолщина платы: 3,1 ммТолщина готовой платы 4,8 ммЭлектрическое толстое золотоДеформация: 0,3%
Отправить запрос

Shenzhen Uniwell Circuits Co., Ltd. является одним из ведущих производителей и поставщиков 32-слойных полупроводниковых испытательных плат Uniwell Circuits в Китае, а также поддерживает индивидуальное обслуживание по низкой цене. Если вы собираетесь купить высококачественную 32-слойную полупроводниковую испытательную плату Uniwell, добро пожаловать на предложение на нашем заводе.

 

32-слойная круглая полупроводниковая испытательная плата Uniwell представляет собой многослойную печатную плату высокой сложности со следующими основными характеристиками и областями применения:

product-1-1

 

Модель продукта 16I348024A0
слои 32 слоя
материал Материал с высоким ТГ
Толщина доски 3,1 мм
Коробление 0.3%

 

Основные характеристики процесса
Основные параметры: Изготовлен из листового материала с высокой TG, толщиной примерно 4,8 - 5,0 мм, поверхность обработана местным гальваническим золотом, а коробление строго контролируется в пределах менее или равно 0,3%, что соответствует высокоточным требованиям плоскостности сценариев тестирования полупроводников.
Прецизионная технология: поддерживает минимальный размер внутреннего пространства 0,17 мм в сочетании с технологией отверстий для заглушек из смолы с минимальной апертурой 0,4 мм, подходит для требований к проводке с высокой-плотностью и относится к типичным продуктам для печатных плат высокого-класса с высоким соотношением толщины и диаметра.

 

Основные области применения
Этот тип испытательной платы полупроводников относится к основным вспомогательным компонентам цепочки полупроводниковой промышленности и в основном делится на три категории: плата пробной карты, плата тестовой нагрузки и плата старения. Основные сценарии применения включают в себя:

Процесс функциональной проверки и тестирования производительности после упаковки чипа обеспечивает калибровку параметров и хорошую проверку продукта до того, как чип покинет завод.

 

product-380-213


Тестирование надежности старения высокопроизводительных чипов-с имитацией экстремальных условий работы для проверки долгосрочной-стабильности работы чипов.
Расширение Downstream охватывает сценарии тестирования высокопроизводительных-чипов в центрах обработки данных, серверах искусственного интеллекта, высокопроизводительном-коммуникационном оборудовании, промышленном управлении, аэрокосмической и военной промышленности, обеспечивая поддержку тестирования для стабильной работы высокопроизводительных и высоконадежных чипов.

горячая этикетка : Схемы Uniwell, 32-слойная испытательная плата для полупроводников, Китай, поставщики, производители, фабрика, дешево, по индивидуальному заказу, низкая цена, высокое качество, предложение